薄膜光电器件测量装置
授权
摘要
本申请提供一种薄膜光电器件测量装置，包括夹持组件，夹持组件用于夹持薄膜光电器件；功能组件，功能组件用于发出照射薄膜光电器件的光线或者接收薄膜光电器件的光线；其中，夹持组件与功能组件相邻设置，且夹持组件面向功能组件的一侧设置有暴露薄膜光电器件的透光区，以使得功能组件发出的光线经过透光区照射薄膜光电器件或者接收薄膜光电器件穿过透光区的光线。本申请解决了目前薄膜光电器件的内部物理信息难以测量的技术问题。
基本信息
专利标题 ：
薄膜光电器件测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123278906.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-23
授权号 ：
CN216646720U
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
王成芦子哲
申请人 ：
TCL科技集团股份有限公司
申请人地址 ：
广东省惠州市仲恺高新区惠风三路17号TCL科技大厦
代理机构 ：
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘茂源
优先权 ：
CN202123278906.4
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04 G01M11/02 G01Q60/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-05-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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