一种基于深紫外光斑位置探测的光斑测量与对准系统
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摘要
一种基于深紫外光斑位置探测的光斑测量与对准系统，所述系统包括机械位移平台、设置在机械位移平台上的测量电路，所述测量电路包括依次连接的氧化镓四象限光电探测器、I‑V转换电路、电压放大电路、ADC电路、MCU和数码管显示电路，所述电压放大电路的输出还连接紫外线强度可视化电路，所述I‑V转换电路、电压放大电路、紫外线强度可视化电路和ADC电路均使用4组电路，每组检测氧化镓四象限光电探测器的一个象限。与红外探测器相比,紫外探测器更为可靠,且具有高灵敏度、高输岀、高响应速度和应用线路简单等特点。因而可以广泛地应用于燃烧监控、导弹追踪、3D打印固化、精密装配、火灾自报警、放电检测、紫外线检测、及紫外线光电控制装置中。
基本信息
专利标题 ：
一种基于深紫外光斑位置探测的光斑测量与对准系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123355784.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-29
授权号 ：
CN216482779U
授权日 ：
2022-05-10
发明人 ：
饶小玉
申请人 ：
北京物资学院
申请人地址 ：
北京市通州区富河大街1号北京物资学院
代理机构 ：
郑州中原专利事务所有限公司
代理人 ：
李想
优先权 ：
CN202123355784.4
主分类号 ：
G01B7/00
IPC分类号 ：
G01B7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
法律状态
2022-05-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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