点云几何上采样
实质审查的生效
摘要
提供了一种用于处理点云数据的方法、计算机程序和计算机系统。接收量化点云数据，量化点云数据包括多个立体像素。生成与多个立体像素中的在量化期间丢失的立体像素相对应的量化点云的占用映射。基于填充丢失的立体像素，根据量化点云数据重建点云。
基本信息
专利标题 ：
点云几何上采样
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114556147A
申请号 ：
CN202180005723.9
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2021-06-22
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
阿尼克·阿克塔高文张翔刘杉
申请人 ：
腾讯美国有限责任公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州帕洛阿尔托公园大道2747号
代理机构 ：
北京派特恩知识产权代理有限公司
代理人 ：
王花丽
优先权 ：
CN202180005723.9
主分类号 ：
G01S17/00
IPC分类号 ：
G01S17/00 G01S7/48 G06T9/00 H03M7/30 H04N19/436 H04N19/64 G01S17/89
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S17/00
应用除无线电波外的电磁波的反射或再辐射系统，例如，激光雷达系统
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 17/00
申请日 : 20210622
申请日 : 20210622
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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