一种基于机器视觉的工业磁瓦外观检测系统及其检测方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种基于机器视觉的工业磁瓦外观检测系统,包括搭载框架、第一检测台和第二检测台;第一检测台和第二检测台安装在搭载框架的内侧下方,搭载框架设有五组机械手,第一检测台和第二检测台均设有环形传送带;环形传送带设有多个遮光子台,遮光子台内设有重力传感器,重力传感器与一组机械手信号连接;环形传送带设有多个透光子台,透光子台设有感光分析屏,搭载框架设有平行光灯配合感光分析屏;搭载框架设有气缸,气缸连接有检测套筒;第二检测台设有用以检测磁瓦高度的预检测机构和采集摄像头。本发明还涉及一种基于机器视觉的工业磁瓦外观检测系统的检测方法。本发明可以检测磁瓦外观和质量,属于磁瓦检测技术领域。
基本信息
专利标题 :
一种基于机器视觉的工业磁瓦外观检测系统及其检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114322791A
申请号 :
CN202210015213.6
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2022-01-07
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
田黎
申请人 :
广东机电职业技术学院
申请人地址 :
广东省广州市白云区同和蟾蜍石东路2号
代理机构 :
广州市华学知识产权代理有限公司
代理人 :
彭逸峰
优先权 :
CN202210015213.6
主分类号 :
G01B11/02
IPC分类号 :
G01B11/02 G01B11/06 G01B11/24 G01G19/00 G01N21/88 B07C5/10 B07C5/16 B07C5/342 B07C5/36 B25J11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/02
申请日 : 20220107
申请日 : 20220107
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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