eMMC测试方法、装置、可读存储介质及电子设备
实质审查的生效
摘要
本发明公开一种eMMC测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，接收待测eMMC芯片的稳态性能测试请求；根据所述稳态性能测试请求按照第一预设容量对所述待测eMMC芯片进行区域划分，得到划分后的待测eMMC芯片；对所述划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作，并保存所述数据读写操作对应的数据读写结果；基于所述数据读写结果确定所述稳态性能测试请求对应的稳态性能测试结果，以容量为测试维度进行测试，既能够测试eMMC芯片的稳态性能是否正常，也能够准确知道稳态性能是否下跌，并且相较于以时间为测试维度的测试方法更加便捷，降低了测试的繁琐程度，从而能够提高稳态性能测试的便捷性。
基本信息
专利标题 ：
eMMC测试方法、装置、可读存储介质及电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114518981A
申请号 ：
CN202210021369.5
公开（公告）日 ：
2022-05-20
申请日 ：
2022-01-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
孙成思孙日欣赵颖
申请人 ：
深圳佰维存储科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区众冠红花岭工业南区二区4栋
代理机构 ：
深圳市博锐专利事务所
代理人 ：
欧阳燕明
优先权 ：
CN202210021369.5
主分类号 ：
G06F11/22
IPC分类号 ：
G06F11/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-06-07 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/22
申请日 : 20220110
申请日 : 20220110
2022-05-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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