基于空间光调制器波前校正的显微成像装置与方法
实质审查的生效
摘要
一种基于空间光调制器波前校正的显微成像装置与方法，可以用来实现对任意规格盖玻片引起显微物镜像差校正成像，并同时对显微物镜自身及其他系统像差进行校正。该装置利用波前传感器对物镜后波前进行探测同时利用空间光调制器进行补偿。该装置省去了制造不同厚度盖玻片的补偿测试片，而且对显微物镜以及其他系统像差也有很好的校正效果，在光学显微成像领域具有很大的应用价值。
基本信息
专利标题 ：
基于空间光调制器波前校正的显微成像装置与方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114460735A
申请号 ：
CN202210050450.6
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2022-01-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
曾爱军乔适胡敬佩董延更黄惠杰
申请人 ：
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 ：
上海市嘉定区清河路390号
代理机构 ：
上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
张宁展
优先权 ：
CN202210050450.6
主分类号 ：
G02B21/36
IPC分类号 ：
G02B21/36 G02B21/32 G02B21/00 G06T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B21/00
显微镜
G02B21/36
照相或投影用的布置
法律状态
2022-05-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G02B 21/36
申请日 : 20220117
申请日 : 20220117
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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