显微成像系统的LED阵列光源位姿偏差校正方法及装置
实质审查的生效
摘要
一种显微成像系统的LED阵列光源位姿偏差校正方法及装置，稳定性好，计算所用时间很短，不要求系统具有精密机械调节机构，对光强和噪声的鲁棒性好。方法包括：(1)装调可编程计算显微成像系统；(2)采集对焦位置的样本图像；(3)采集离焦位置的样本图像；(4)计算LED阵列的光源位姿偏差参数；(5)重构高分辨率、大视场的复振幅图像。
基本信息
专利标题 ：
显微成像系统的LED阵列光源位姿偏差校正方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114355601A
申请号 ：
CN202111601002.2
公开（公告）日 ：
2022-04-15
申请日 ：
2021-12-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张韶辉郑传建郝群赫建许刚
申请人 ：
北京理工大学;广州市晶华精密光学股份有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区中关村南大街5号北京理工大学
代理机构 ：
北京市中闻律师事务所
代理人 ：
冯梦洪
优先权 ：
CN202111601002.2
主分类号 ：
G02B21/00
IPC分类号 ：
G02B21/00 G02B21/06 G02B21/34 G02B21/36 G06T7/80
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B21/00
显微镜
法律状态
2022-05-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G02B 21/00
申请日 : 20211224
申请日 : 20211224
2022-04-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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