量测高电子移动率晶体管之装置
公开
摘要
一种用于量测半导体组件的装置，包括控制器、控制器、保护电路、负载电路及切换电路。切换电路电连接于负载电路与保护电路之间。保护电路的输入阻抗大于切换电路开启时的阻抗。保护电路的输入阻抗小于切换电路关闭时的阻抗。控制器经组态以在第一时间点提供第一控制讯号至半导体组件及在第二时间点提供第二控制讯号至切换电路。半导体组件藉由第一控制讯号开启。切换电路藉由第二控制讯号开启。第一时间点早于第二时间点，使得半导体组件的开通时间点早于切换电路的开通时间点。切换电路的开通状态的维持时间与半导体组件的开通状态的维持时间重迭。半导体组件的开通状态的维持时间大于切换电路的开通状态的维持时间。
基本信息
专利标题 ：
量测高电子移动率晶体管之装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114414977A
申请号 ：
CN202210062968.1
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2019-10-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈钰林周春华李思超林文杰章涛
申请人 ：
英诺赛科（珠海）科技有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市高新区金园二路39号
代理机构 ：
深圳宜保知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
王琴
优先权 ：
CN202210062968.1
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/20 G01R1/36 G01R27/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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