本发明公开了一种芯片检验追踪方法及系统，涉及芯片检测技术领域，包括数据上传模块、参数检测模块、设备追踪模块以及若干芯片；当参数检测模块批量检测多个芯片时，数据上传模块用于检测员上传检测请求至上位机，上位机用于将若干个检测任务数据包分发至不同的检测单元，从而实现检测任务的多样性组合，提高检测效率；检测单元用于解析接收到的检测任务数据包内容，按照检测值大小依次执行检测任务数据包内设置的若干检测任务，并将检测数据发送至上位机；设备追踪模块用于获取带有同一设备标识的检测数据进行设备追踪分析，判断对应设备是否有生产不合格芯片的趋势，以提醒管理人员对该设备进行检修，从而提高芯片质量和合格率。