存储设备转接卡、存储设备测试系统以及方法
公开
摘要
本发明揭示了一种存储设备转接卡、存储设备测试系统以及方法，涉及存储设备领域。该存储设备转接卡包括：控制组件和多个存储设备接口；控制组件分别与各存储设备接口相连：其中：各存储设备接口，用于插接存储设备；控制组件，用于当各存储设备接口插接存储设备时，获取各存储设备的状态，并根据各存储设备的状态通过存储设备接口向各存储设备输出指示信息，以使各存储设备根据指示信息进行点灯。该存储设备转接卡可以根据存储设备的状态输出指示信息，从而使得存储设备根据指示信息进行点灯。从而使得用户可以根据存储设备的点灯情况确定存储设备当前的状态，进一步实现了对存储设备性能进行测试，且保证了测试结果的准确性。
基本信息
专利标题 ：
存储设备转接卡、存储设备测试系统以及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114625213A
申请号 ：
CN202210083039.9
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2022-01-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张涛
申请人 ：
苏州浪潮智能科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
代理机构 ：
北京三聚阳光知识产权代理有限公司
代理人 ：
王娜
优先权 ：
CN202210083039.9
主分类号 ：
G06F1/16
IPC分类号 ：
G06F1/16 G06F1/18 G06F1/24 G06F11/22 G06F11/32 G06F13/38 F04D27/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F1/00
不包括在G06F3/00至G06F13/00和G06F21/00各组的数据处理设备的零部件
G06F1/16
结构部件或配置
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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