一种模拟集成电路参数优化方法及系统
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种模拟集成电路参数优化方法及系统，所述方法包括以下步骤：获取待参数优化的模拟集成电路的电路结构、性能指标要求、基于gm/ID设计方法学的电路设计参数及其取值范围、ID/W‑gm/ID查找表、迭代停止条件；根据获取的所述基于gm/ID设计方法学的电路设计参数及其取值范围，采样得到训练样本集；将所述训练样本集中的每个样本分别输入电路仿真器进行仿真，获得对应的训练响应集；基于所述训练样本集和训练响应集进行迭代处理，实现模拟集成电路参数优化。本发明的方法相当于在电路的特征空间对电路进行优化，能够显著提高算法的优化效果与加速收敛速度。
基本信息
专利标题 ：
一种模拟集成电路参数优化方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114429099A
申请号 ：
CN202210101247.7
公开（公告）日 ：
2022-05-03
申请日 ：
2022-01-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王红义陈晨惠静妮吴凯凯陶韬
申请人 ：
西安交通大学
申请人地址 ：
陕西省西安市咸宁西路28号
代理机构 ：
西安通大专利代理有限责任公司
代理人 ：
李鹏威
优先权 ：
CN202210101247.7
主分类号 ：
G06F30/373
IPC分类号 ：
G06F30/373 G06F30/367 G06N7/00 G06N3/12 G06F111/04 G06F111/06 G06F111/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/373
设计优化
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/373
申请日 : 20220127
申请日 : 20220127
2022-05-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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