一种磁球校准方法和磁球校准装置
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种磁球校准方法和磁球校准装置。本发明的磁球校准方法包括磁球绕第一轴和第二轴转动，获取转动过程中检测位置处的三轴磁场分量的检测数据；根据所述检测数据，得到所述磁球的校准位置；根据所述磁球的校准位置，校准所述磁球；其中，所述磁球位于所述校准位置时，所述磁球的磁极化方向与第二轴重合；所述第一轴与所述第二轴相互垂直；所述三轴磁场分量包括X轴磁场分量、Y轴磁场分量和Z轴磁场分量；所述Z轴磁场分量的方向与所述第二轴的方向重合；所述Y轴磁场分量与所述第一轴的方向重合。根据本发明的磁球校准方法、磁球校准装置，能够方便、快捷、准确地校准磁球。
基本信息
专利标题 ：
一种磁球校准方法和磁球校准装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114487968A
申请号 ：
CN202210104917.0
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2022-01-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王青青王俊杰段晓东
申请人 ：
上海安翰医疗技术有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区(上海)自由贸易试验区金穗路2218号1楼
代理机构 ：
北京成创同维知识产权代理有限公司
代理人 ：
蔡纯
优先权 ：
CN202210104917.0
主分类号 ：
G01R35/00
IPC分类号 ：
G01R35/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/00
申请日 : 20220128
申请日 : 20220128
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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