力学分量测量方法、装置及电子设备
实质审查的生效
摘要

本申请提供了一种力学分量测量方法、装置及电子设备,该方法包括:获取目标应用场景的待测样品对应的光角度参量、光特征参量和力学参量三者之间的解析关系;建立待测样品的实验坐标系;获取待测样品的待测区域在实验坐标系下的光特征参量分布图像集合;基于解析关系和待测区域在不同光角度参量值下的光特征参量分布图像,确定每一个待测点位的最优力学参量值;根据每一个待测点位的最优力学参量值,确定待测区域对应的力学参量分布图像集合。本申请可以提高对材料应力或应变场分析的准确性。

基本信息
专利标题 :
力学分量测量方法、装置及电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114445381A
申请号 :
CN202210107740.X
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2022-01-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
仇巍邢华丹何全燕曲传咏王苗菁贺晓勇
申请人 :
天津大学
申请人地址 :
天津市南开区卫津路92号
代理机构 :
北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王术兰
优先权 :
CN202210107740.X
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06T7/66  G06F30/20  G06V10/44  G06F119/14  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20220128
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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