一种高效率全Stokes分量偏振测量方法
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摘要
本发明公开了一种高效率全Stokes分量偏振测量方法，包括：设计偏振测量装置，所述偏振测量装置包括一片λ/2微相位延迟器阵列、一片3λ/4微相位延迟器阵列、一片线性偏振片，优化得到两个微相位延迟器阵列内各微相位延迟器的快轴方位角；基于优化结果，得到两块微相位延迟器阵列和线性偏振片的排布；入射光进入偏振测量装置，对应得到4种偏振调制后的光强信号L1，L2，L3，L4；由光强信号L1，L2，L3，L4解算得到全Stokes分量(s0，s1，s2，s3)T，其中T表示向量转置符号。本发明的方法可实现线偏振分量和圆偏振分量的测量效率相同，且总体效率最大化，有利于减小测量过程中的不确定度，提升测量效率。
基本信息
专利标题 ：
一种高效率全Stokes分量偏振测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113359069A
申请号 ：
CN202110624212.7
公开（公告）日 ：
2021-09-07
申请日 ：
2021-06-04
授权号 ：
CN113359069B
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
韩子健王钢朱永田郭晶
申请人 ：
中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
申请人地址 ：
江苏省南京市板仓街188号
代理机构 ：
南京知识律师事务所
代理人 ：
李湘群
优先权 ：
CN202110624212.7
主分类号 ：
G01R33/032
IPC分类号 ：
G01R33/032 G01J4/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/02
测量磁场或磁通量的方向或大小
G01R33/032
采用磁—光设备，例如法拉第的
法律状态
2022-06-07 ：
授权
2021-09-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 33/032
申请日 : 20210604
申请日 : 20210604
2021-09-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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