基于超图结构的深度数据质量评价方法及装置
实质审查的生效
摘要

本申请公开了一种基于超图结构的深度数据质量评价方法及装置,其中,方法包括:获取对齐的彩色与深度RGB‑D图像,并对RGB‑D图像进行分块,得到多个RGB‑D块;提取多个RGB‑D块的每个RGB‑D块的特征向量,并基于所有特征向量间的欧式距离构建超图;计算超图的关联矩阵,并利用关联矩阵对所有特征向量做超图卷积,得到每个RGB‑D块的局部评价分数,并基于每个RGB‑D块的局部评价分数生成RGB‑D图像的整体评价分数。由此,解决了相关技术中深度数据质量评价工作缺失,且在无法获得参考深度图的情况下,相关技术无法为失真深度图计算较为准确的质量分数,只考虑简单特征、缺乏通用性、计算效率低下以及忽视深度图内部高阶关联等问题。

基本信息
专利标题 :
基于超图结构的深度数据质量评价方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114549429A
申请号 :
CN202210110951.9
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-01-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
高跃程嘉梁李思奇吉书仪
申请人 :
清华大学
申请人地址 :
北京市海淀区清华园
代理机构 :
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
吴婷
优先权 :
CN202210110951.9
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06T7/38  G06T7/55  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20220129
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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