一种判断表面缺陷显性程度的方法
公开
摘要
本发明公开了一种判断表面缺陷显性程度的方法，在缺陷识别区上方架设垂直于缺陷识别区轴向的弧形轨道，并在弧形轨道上安装工业相机；将工业相机运动到缺陷识别区中待识别工件的正上方，进行第一次拍照识别，获得第一图像，识别完成后在第一图像上标注缺陷存在的位置，同时对标注了缺陷位置的第一图像取灰度值；驱动工业相机在弧形轨道上运动，在运动过程中持续对待识别工件的表面做各角度取景抓拍；对抓拍的各角度图片分别取灰度值；根据工业相机在弧形轨道上运动时的角度连续变化将各角度图片的灰度值依次排列获得灰度梯度，将缺陷位置的灰度梯度列出并根据缺陷位置的灰度梯度判断缺陷位置的显性程度，本发明可以高效判断缺陷的显性程度。
基本信息
专利标题 ：
一种判断表面缺陷显性程度的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114594101A
申请号 ：
CN202210117147.3
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2022-02-08
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
何星
申请人 ：
厦门聚视智创科技有限公司
申请人地址 ：
福建省厦门市软件园三期诚毅北大街65号501-4单元
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202210117147.3
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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