基于计算机控制的均匀程度判断平台
实质审查的生效
摘要

本发明涉及一种基于计算机控制的均匀程度判断平台,包括:传送执行机构,用于基于计算机控制芯片以在每传送一件待检测目标到厚度测量工位时,发送一次同步驱动信号;信号解析机构,用于获取玉石器件的成像区域的各个像素列分别对应的各个参考数量,并计算所述各个参考数量去除最值后的均方差;厚度映射机构,用于在获取的均方差小于等于设定均方差阈值时,发出厚度均匀信号。本发明的基于计算机控制的均匀程度判断平台结构紧凑、方便实用。由于能够在采用计算机控制模式触发用于厚度检测的同步信号的基础上,采用基于像素点等级精度的去除最值后的均方差计算模式,从而实现了对作为待测量目标的玉石器件的侧面厚度的可靠检测。

基本信息
专利标题 :
基于计算机控制的均匀程度判断平台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114459365A
申请号 :
CN202210120467.4
公开(公告)日 :
2022-05-10
申请日 :
2022-02-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
吴秋琴
申请人 :
吴秋琴
申请人地址 :
江苏省泰州市靖江市经济开发区城北园区新二路6号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202210120467.4
主分类号 :
G01B11/06
IPC分类号 :
G01B11/06  G06T5/00  G06T7/11  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2022-05-27 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/06
申请日 : 20220208
2022-05-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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