一种铁基非晶带材叠片系数的快速测量方法
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摘要
本发明提供一种铁基非晶带材叠片系数的快速测量方法，包括以下步骤：制备单层试样群；从单层试样群中任意抽取一片单层试样；利用固定的双头对射激光同轴位移计扫描得到单层试样的厚度平均值；利用CCD尺寸视觉系统扫描测量得到单层试样的宽度值与长度值；利用精密电子天平测量单层试样的重量值；根据获得的单层试样的厚度平均值、宽度值与长度值、重量值，计算得到铁基非晶带材的叠片系数；本发明测量方法准确度高、速度快，提高了现有非晶带材的叠片系数测量速度，降低了误差对测量结果的影响，从而提高了叠片系数测量的精确度。
基本信息
专利标题 ：
一种铁基非晶带材叠片系数的快速测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114167008A
申请号 ：
CN202210132107.6
公开（公告）日 ：
2022-03-11
申请日 ：
2022-02-14
授权号 ：
CN114167008B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
林珊翟利华刘健美陈吉刚侯峰高杰孙菁张羽彭伟饶美婉周丹刘从胜苏华罗旭王洪杰阮艳妹卢晓智邹晓文吴淑娟
申请人 ：
广州地铁设计研究院股份有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市越秀区环市西路204号
代理机构 ：
广州科沃园专利代理有限公司
代理人 ：
王维霞
优先权 ：
CN202210132107.6
主分类号 ：
G01N33/00
IPC分类号 ：
G01N33/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/00
利用不包括在G01N1/00至G01N31/00组中的特殊方法来研究或分析材料
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2022-03-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 33/00
申请日 : 20220214
申请日 : 20220214
2022-03-11 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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