基于偶然误差特性的时间序列粗差探测方法及装置
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种基于偶然误差特性的时间序列粗差探测方法及装置,包括:根据时间序列拟合模型对原始数据时间序列进行拟合,得到R;计算R的绝对值,并将结果进行排序;选取rbin值对R进行分段;根据Ri;若不存在粗差则σi服从同一正态分布,随着rbin范围所包含的数据增多σi逐渐趋于固定值;若σi显现出不同趋势,则存在粗差并对相邻σi进行差分计算;对σi进行插值,并对其去趋势;通过波峰查找函数,确定查找差分结果表现出不同运动趋势时刻的σx;根据偶然误差概率分布特性进行粗差去除;本发明基于偶然误差特性改善了由于原始时间序列中粗差污染造成无法精确估算数据粗差的影响,提高了粗差探测的准确性。

基本信息
专利标题 :
基于偶然误差特性的时间序列粗差探测方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114547540A
申请号 :
CN202210158866.X
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-02-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张明高涵邱云峰黄彦锋陈海林
申请人 :
云南省测绘产品检测站
申请人地址 :
云南省昆明市西山区西昌路223号
代理机构 :
北京知呱呱知识产权代理有限公司
代理人 :
胡乐
优先权 :
CN202210158866.X
主分类号 :
G06F17/11
IPC分类号 :
G06F17/11  G01S19/39  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F17/00
特别适用于特定功能的数字计算设备或数据处理设备或数据处理方法
G06F17/10
复杂数学运算的
G06F17/11
用于解决方程式的
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 17/11
申请日 : 20220221
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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