基于介质超表面偏振转换的折射率传感器
公开
摘要
本发明公开了一种基于介质超表面偏振转换的折射率传感器，所述折射率传感器由中间介质层和两层相同纳米单元阵列构成，介质超表面的纳米单元周期排列；每个介质超表面纳米单元由介质方块组成，与x轴或y轴均成45°，介质超表面对正入射的线偏振光和圆偏振光都能够产生法诺共振，对周围介质折射率极其敏感；本发明基于高折射率的介质超表面避免了金属材料引起的欧姆损耗，具有损耗低的优势，且有利于实现CMOS集成、大规模制备。所述介质超表面偏振转换的折射率传感器提供了一种低成本、易加工、可集成的折射率传感器，在探测、生物医药、光学器件设计等领域应用前景广阔。
基本信息
专利标题 ：
基于介质超表面偏振转换的折射率传感器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114624209A
申请号 ：
CN202210199620.7
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2022-03-02
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
史金辉秦春花徐文霞孙铂添李玉祥关春颖
申请人 ：
哈尔滨工程大学
申请人地址 ：
黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号哈尔滨工程大学科技处知识产权办公室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202210199620.7
主分类号 ：
G01N21/41
IPC分类号 ：
G01N21/41
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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