本发明属于光电子技术领域，其特征在于，该表面等离子波折射率检测芯片是一种由特定金属薄膜和特定折射率介质组成，该金属薄膜附着在该介质上，通过从该金属薄膜端面激励的方法产生长程表面等离子波，通过测定该长程表面等离子波的传输损耗来检测金属表面上方介质折射率变化的一种功能芯片。所述金属薄膜是下述金、银、铝、铜、钛、镍、铬中的任何一种的薄膜，厚度限定在10nm以上，100nm以下；所述金属薄膜下方介质的折射率限定在1.2以上，3.8以下。由于本发明利用长程表面等离子波来进行折射率的检测，检测对象不再是传统技术中的空间反射光角度，是传输损耗，同时，长程表面等离子波可以通过光纤端面耦合的方法来激励，可以省去空间入射光的控制部分，为实现可集成的折射率检测器提供了可能。