基于神经元影响程度的产品分类模型的测试方法
公开
摘要
本发明公开了一种基于神经元影响程度的产品分类模型的测试方法，通过计算神经元重要性，增强后段神经元，削弱前段神经元，以生成更多使产品分类模型错误分类的多样化与产品相关的测试样本图像，提前发现产品分类模型中运行过程中可能存在的异常情况。此外，利用生成的测试样本图像对产品分类模型进行重新训练，可以修复其中的漏洞，使对产品分类模型在在残次品检验判定的过程中更加安全可靠。
基本信息
专利标题 ：
基于神经元影响程度的产品分类模型的测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114565051A
申请号 ：
CN202210204470.4
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-03-03
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘祥张英
申请人 ：
余姚市亿盛金属制品有限公司
申请人地址 ：
浙江省宁波市余姚市泗门镇汝湖西路23号
代理机构 ：
杭州天勤知识产权代理有限公司
代理人 ：
曹兆霞
优先权 ：
CN202210204470.4
主分类号 ：
G06K9/62
IPC分类号 ：
G06K9/62 G06N3/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06K
数据识别；数据表示；记录载体；记录载体的处理
G06K9/00
用于阅读或识别印刷或书写字符或者用于识别图形，例如，指纹的方法或装置
G06K9/62
应用电子设备进行识别的方法或装置
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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