具有差分环回测试的内存控制器物理接口
公开
摘要
本发明提供了用于内存控制器的环回测试技术的系统、装置和方法。内存控制器其可以包括环回测试电路，其可以包括：第一多路复用器，其具有耦合到输入缓冲器的输出的第一输入和耦合到来自内存控制器的第一数据输出的第二输入；反相器，其耦合到输入缓冲器的输出；以及第二多路复用器，其具有耦合到反相器的输出的第一输入和耦合到来自内存控制器的第二数据输出的第二输入。
基本信息
专利标题 ：
具有差分环回测试的内存控制器物理接口
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114595172A
申请号 ：
CN202210239406.X
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2022-03-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
不公告发明人
申请人 ：
英韧科技（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区盛夏路565弄40号601、602、603、604、605、606室（名义楼层6层，实际楼层5层）
代理机构 ：
上海一平知识产权代理有限公司
代理人 ：
吴珊
优先权 ：
CN202210239406.X
主分类号 ：
G06F13/16
IPC分类号 ：
G06F13/16 G06F11/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F13/00
信息或其他信号在存储器、输入/输出设备或者中央处理机之间的互连或传送
G06F13/14
对互连或传送请求的处理
G06F13/16
关于访问存储器总线的
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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