本发明属于远红外测量技术领域，具体地说，是一种远红外激光器芯片出光状态的观测装置及观测方法，包括透镜、滤光片、热探测阵列、外壳、移动台和计算机；透镜对被测远红外激光器芯片端面进行成像，滤光片用于滤除被测远红外激光器芯片及其周围背景产生的多余红外背景辐射；观测时，透镜、滤光片和热探测阵列安装于外壳上，通过移动台实现整个观测装置的位置移动，使得被测远红外激光器芯片端面的像位于热探测阵列上，调节被测远红外激光器芯片的驱动电压或电流，使得激光器芯片出光状态发生改变，在热探测阵列上分别记录不同状态下的出光光斑信息，包括光斑的大小、出光强弱以及二者随随时间的变化，从而实现对远红外激光器芯片出光状态的观测。