一种LED芯片出光分布测试装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种LED芯片出光分布测试装置，包括光学平板，所述光学平板上设置有能够进行横向和纵向移动的二维移动平台，所述二维移动平台的上端固定有基座，所述基座上设置有铝基板，所述铝基板上设置有用于置放LED芯片的凹槽，铝基板的上侧设置有用于给芯片通电的正、负极探针，所述正、负极探针分别由安装光学平板两侧的三维移动平台驱使移动，所述正、负极探针分别经探针支架与三维移动平台相连接。该LED芯片出光分布测试装置结构简单，可以实现测试过程中对芯片的固定，降低测试难度。
基本信息
专利标题 ：
一种LED芯片出光分布测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921558415.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-19
授权号 ：
CN210513629U
授权日 ：
2020-05-12
发明人 ：
黄章挺
申请人 ：
福建兆元光电有限公司
申请人地址 ：
福建省福州市闽侯县南屿镇福州市生物医药和机电产业园区
代理机构 ：
福州元创专利商标代理有限公司
代理人 ：
陈方淮
优先权 ：
CN201921558415.5
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2020-05-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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