一种光器件、光芯片损耗测试装置及方法
授权
摘要
本发明涉及光学损耗测试领域，公开了一种光器件、光芯片损耗测试装置及方法，包括：包括微环谐振系统、输入系统、输出系统，所述输入系统包括第一光纤和第一光耦合器，所述输出系统包括第二光纤、第二光耦合器、第三光耦合器，所述第一光耦合器一端与第一光纤连接，另一端与所述微环谐振系统连接；所述第二光耦合器设置于所述微环谐振系统上行端，其一端与第二光纤连接，另一端与所述微环谐振系统连接；所述第三光耦合器设置于所述微环谐振系统下行端，其一端与第二光纤连接，另一端与所述微环谐振系统连接。通过将被测光器件、光芯片嵌套进微环谐振系统，进而提高了测试精确度、稳定性和灵活性。
基本信息
专利标题 ：
一种光器件、光芯片损耗测试装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111256960A
申请号 ：
CN202010225015.3
公开（公告）日 ：
2020-06-09
申请日 ：
2020-03-26
授权号 ：
CN111256960B
授权日 ：
2022-04-22
发明人 ：
周治平杨丰赫
申请人 ：
北京爱杰光电科技有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区中关村北大街127-1号一层102-4室
代理机构 ：
北京睿智保诚专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
周新楣
优先权 ：
CN202010225015.3
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-04-22 ：
授权
2020-07-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20200326
申请日 : 20200326
2020-06-09 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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