量子电路的故障仿真方法、系统、存储介质和电子设备
实质审查的生效
摘要
本发明涉及量子电路故障仿真技术领域，尤其涉及一种量子电路的故障仿真方法、系统、存储介质和电子设备，方法包括：获取待测试故障量子电路所对应的超算子，并获取所述超算子中的每个逻辑超算子所分别对应的Kraus矩阵集合，基于输入状态数据、期望输出状态数据以及所有的Kraus矩阵集合，计算所述待测试故障量子电路中的故障的故障影响率，通过仿真实验结果表明，本发明能够模拟大小超过5000个量子比特的故障量子电路，能够满足NISQ时代的应用，而且适用性广泛，既可以独立使用，也可以集成到当前开发的量子自动测试模式生成程序中，用于验证和检测量子电路的设计错误、制造缺陷和量子噪声效应。
基本信息
专利标题 ：
量子电路的故障仿真方法、系统、存储介质和电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114429095A
申请号 ：
CN202210352795.7
公开（公告）日 ：
2022-05-03
申请日 ：
2022-04-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
官极黄鸣宇应明生
申请人 ：
北京中科弧光量子软件技术有限公司;中国科学院软件研究所
申请人地址 ：
北京市海淀区知春路甲48号3号楼4层1单元5C
代理机构 ：
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈熙
优先权 ：
CN202210352795.7
主分类号 ：
G06F30/33
IPC分类号 ：
G06F30/33 G06N10/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/33
设计验证，例如功能仿真或模型检查
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/33
申请日 : 20220406
申请日 : 20220406
2022-05-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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