亚角秒级角度测量系统、方法及相对变形角度测量方法
实质审查的生效
摘要

本发明提出了一种亚角秒级角度测量系统、方法及相对变形角度测量方法,一是解决现有亚角秒级角度测量的视场过小、测量精度较低的问题,二是解决现有技术无法测量目标两个部分的相对微小变形的问题。该亚角秒级角度测量系统包括至少一个测量子单元,测量子单元包括目标平面反射镜、激光光源、基准平面反射镜和探测器;激光光源、探测器与基准平面反射镜设置在同一侧,目标平面反射镜位于基准平面反射镜的另一侧,且探测器表面、基准平面反射镜表面位于同一平面;目标平面反射镜与目标物体固定,运动姿态与目标物体同步,且目标平面反射镜平面和基准平面反射镜平面平行设置,二者之间的间隔为H。

基本信息
专利标题 :
亚角秒级角度测量系统、方法及相对变形角度测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114509026A
申请号 :
CN202210407986.9
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2022-04-19
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘阳王立王虎薛要克梁士通林上民刘杰解永杰车云强
申请人 :
中国科学院西安光学精密机械研究所;北京控制工程研究所
申请人地址 :
陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
代理机构 :
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 :
王少文
优先权 :
CN202210407986.9
主分类号 :
G01B11/26
IPC分类号 :
G01B11/26  G01B11/16  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/26
•用于计量角度或锥度;用于检测轴线准直
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/26
申请日 : 20220419
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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