半导体激光切割MPW版图设计方法及其制备的芯片、终端
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种半导体激光切割MPW版图设计方法及其制备的芯片、终端,属于半导体技术领域,包括以下步骤:根据芯片规格参数、晶圆可操作面积上限值、激光切割轨迹调整所需安全距离进行逻辑运算,输出版图设计草图;基于芯片测试难易度和/或晶圆面积利用率和/或切割次数对版图设计草图进行评价,进而确认最终版图设计方案。本发明能够高效输出所有可能性的版图设计草图,具备简单有效、易操作,实用性强的特点,为快速获得更加优质可视的切割方案提供了保证,有效避免产品晶圆在生产切割环节可能的滞留时间,提升产品生产效率。

基本信息
专利标题 :
半导体激光切割MPW版图设计方法及其制备的芯片、终端
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114548015A
申请号 :
CN202210420905.9
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-04-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
不公告发明人
申请人 :
成都复锦功率半导体技术发展有限公司
申请人地址 :
四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区和乐二街171号5栋15楼
代理机构 :
成都华风专利事务所(普通合伙)
代理人 :
吴桂芝
优先权 :
CN202210420905.9
主分类号 :
G06F30/39
IPC分类号 :
G06F30/39  G06F30/392  G06T7/62  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/39
物理层电路设计
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/39
申请日 : 20220421
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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