一种下变频通道群时延测试校准装置
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摘要
本实用新型公开了一种下变频通道群时延测试校准装置，其结构包括：双音信号产生器、上变频器、功分器、二选一射频开关、待测试下变频通道、标准混频器、宽带混频器、两个AD采集板；二选一射频开关有A、B、C三个，双音信号产生器连接上变频器，上变频器连接功分器，功分器分别连接二选一射频开关A和宽带混频器，二选一射频开关A分别连接二选一射频开关B和标准混频器，二选一射频开关B连接待测试下变频通道，待测试下变频通道和标准混频器同时连接至二选一射频开关C，二选一射频开关C连接AD采集板一；宽带混频器连接另AD采集板二。本实用新型性能稳定，方便实现，可靠性高，可广泛应用于信号监测、信号特征分析等领域。
基本信息
专利标题 ：
一种下变频通道群时延测试校准装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202220294467.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2022-02-14
授权号 ：
CN216649701U
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
蒋德龙钱勇
申请人 ：
成都好启科技有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市郫都区德源镇（菁蓉镇）静园东路260号创梦楼一楼C区C1-C2
代理机构 ：
北京中索知识产权代理有限公司
代理人 ：
唐亭
优先权 ：
CN202220294467.1
主分类号 ：
H04B17/309
IPC分类号 ：
H04B17/309 H04B17/21
法律状态
2022-05-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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