光谱分析装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
光谱分析装置，包括分光光度计；分别存贮各类单元数据处理的操作程序和数据的存贮器；键盘(包括指定程序，输入参数和选择多元处理方式的多个键)和控制电路。当某键指定某单元数据处理操作程序时，控制电路根据所指程序，处理分光光度计的输出数据，当选择多元数据处理方式又以已选次序按压相应键连续指定某些单元数据处理操作时，控制电路为连续依次执行这些操作而控制形成多元数据处理程序，从而使分光光度计的输出数据按该多元数据处理程序进行处理。
基本信息
专利标题 ：
光谱分析装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85101197A
申请号 ：
CN85101197.7
公开（公告）日 ：
1986-10-08
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
CN1007928B
授权日 ：
1990-05-09
发明人 ：
西村节志
申请人 ：
株式会社岛津制作所
申请人地址 ：
日本京都市中京区河原町通二条下鹿诺船入町378番地
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
吴增勇
优先权 ：
CN85101197.7
主分类号 ：
G01J3/28
IPC分类号 ：
G01J3/28 G01J3/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
1995-05-24 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1991-01-02 ：
授权
1990-05-09 ：
审定
1987-04-22 ：
实质审查请求
1986-10-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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