环境异常探测装置
专利权的终止专利权有效期届满
摘要
一种环境异常探测装置，用于探测烟雾、热和气体的异常，该装置包括用于周期性地从用于探测这些现象的探测器抽取模拟信号的取样电路，一种用于借助于阶梯电平把抽样信号量化的量化器，以及带有多个计数器以提供与阶梯电平相应的不同累加时间的累加器。当异常严重时，可以在很短的时间内产生异常信号，而由于累加作用而导致的可靠性并未降低。
基本信息
专利标题 ：
环境异常探测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85101339A
申请号 ：
CN85101339.2
公开（公告）日 ：
1986-10-01
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
CN85101339B
授权日 ：
1987-07-15
发明人 ：
木村徹男田中征一铃木隆司
申请人 ：
日探株式会社
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
李强
优先权 ：
CN85101339.2
主分类号 ：
G01N21/53
IPC分类号 ：
G01N21/53
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/47
散射，即漫反射
G01N21/49
固体或流体中的散射
G01N21/53
在流动的流体内，例如烟
法律状态
2000-11-22 ：
专利权的终止专利权有效期届满
1988-01-20 ：
授权
1986-10-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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