激光辐射强度分析装置
专利权的终止
摘要
本实用新型属于一种量热式激光辐射强度测量及稳定性分析装置。采用了量热式高重复率探测器和高精度运算放大器，在运算放大器与微处理机之间装有同步控制器，运算放大器设置了双层屏蔽环，模数转换器为AD574。本实用新型解决了现行量热式激光辐射强度测量仪响应速度慢的问题，具有精度高、灵敏度高、波段宽、响应速度快的特点，可用于激光辐射强度的高重复率测量与稳定性分析。
基本信息
专利标题 ：
激光辐射强度分析装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN85201948.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1985-05-29
授权号 ：
CN85201948U
授权日 ：
1986-03-12
发明人 ：
顾泽苍刘桥初沈德利于世芬张清理
申请人 ：
天津市激光技术研究所
申请人地址 ：
天津市南开区红旗路8358桥东侧
代理机构 ：
天津市专利事务所
代理人 ：
郑永康
优先权 ：
CN85201948.3
主分类号 ：
G01J5/12
IPC分类号 ：
G01J5/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/10
用电辐射检测器
G01J5/12
用热电元件，例如热电偶
法律状态
1989-11-29 ：
专利权的终止
终止日 : 19860924
1986-09-24 ：
授权
1986-03-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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