小型闪光灯深能级瞬态谱仪
被视为撤回的申请视为放弃取得专利权的权利
摘要
本实用新型属于半导体材料测试仪器中的光学深能级谱仪。该谱仪在国产DLTS谱仪的基础上，采用小型闪光灯作脉冲光源，结合DLTS谱仪的结构设计了同步电路。该谱仪体积小、造价低、结构简单、发光较强，主要用于半导体深能级的测量特别适用于宽禁带、单极性半导体，可以在肖特基结构下测量施主和受主深能级等参数。
基本信息
专利标题 ：
小型闪光灯深能级瞬态谱仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN88201059.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1988-01-28
授权号 ：
CN88201059U
授权日 ：
1988-12-14
发明人 ：
王寿寅范希武
申请人 ：
中国科学院长春物理所
申请人地址 ：
吉林省长春市延安大街1号
代理机构 ：
中科院长春专利事务所
代理人 ：
李恩庆
优先权 ：
CN88201059.X
主分类号 ：
G01N21/63
IPC分类号 ：
G01N21/63
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
法律状态
1990-07-04 ：
被视为撤回的申请视为放弃取得专利权的权利
1988-12-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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