微型单象坐标量测装置
专利权的终止专利权有效期届满
摘要
本实用新型公开了一种微型单象坐标量测装置。它主要由光学显微成象系统；X、Y方向精密位移及测微系统所组成。将底片放置于承片框上，通过光学系统放大投影成象在测标光屏上，然后通过转动X、Y方向测微手轮使得测标与象点重合，即可分别读出X、Y坐标值。本实用新型体积小，成本低，精度高，特别适用于近景摄影测量中单象坐标的象点量测。
基本信息
专利标题 ：
微型单象坐标量测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN88220687.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1988-12-01
授权号 ：
CN2042975U
授权日 ：
1989-08-16
发明人 ：
潘卫平吴土金
申请人 ：
武汉测绘科技大学
申请人地址 ：
湖北省武汉市武昌珞喻路39号
代理机构 ：
武汉测绘科技大学专利事务所
代理人 ：
周允昌
优先权 ：
CN88220687.7
主分类号 ：
G03B27/53
IPC分类号 ：
G03B27/53
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G03
摄影术；电影术；利用了光波以外其他波的类似技术；电记录术；全息摄影术
G03B
摄影、放映或观看用的装置或设备；利用了光波以外其他波的类似技术的装置或设备；以及有关的附件
G03B27/10
••曝光时原稿和光源之间作相对移动的复制设备
G03B27/32
投影印制设备，例如，放大机、复制照相机
G03B27/52
零部件
G03B27/53
原图彼此之间的或者相对于感光层的自动对准或定位图纹表面
法律状态
1994-04-27 ：
专利权的终止专利权有效期届满
1990-05-02 ：
授权
1989-08-16 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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