微光仪
专利申请的视为撤回
摘要
本发明公开了一种微光仪，它不需要外加机械斩波器而使用内调制光电探测器，达到测量微弱光的目的。
基本信息
专利标题 ：
微光仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1065930A
申请号 ：
CN91102262.7
公开（公告）日 ：
1992-11-04
申请日 ：
1991-04-13
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
何民才龙理陈畅生蔡本兰
申请人 ：
武汉大学
申请人地址 ：
430072湖北省武汉市武昌珞珈山
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN91102262.7
主分类号 ：
G01J1/42
IPC分类号 ：
G01J1/42 G01J1/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
1994-04-27 ：
专利申请的视为撤回
1992-11-04 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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