绝对位置测定系统

专利权的终止

摘要

一种光学和容性结合的绝对位置编码系统，采用了多个淀积到玻璃度盘基片上的金属化条纹。度盘附近配置有一个可移动的收发机。收发机产生与度盘相互作用的询问信号和光信号。可移动的收发机还装有接收机构供接收与度盘相互作用之后的信号。配备有信号处理电子装置，供比较所发射的询问信号与所收到的信号从而确定度盘与收发机的相对位置。即使系统的电源中断或度盘与收发机的相对运动非常之快，系统也能测出度盘与收发机的相对位置。

基本信息

专利标题：

绝对位置测定系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1067311A

申请号：

CN92101246.2

公开（公告）日：

1992-12-23

申请日：

1992-02-25

授权号：

CN1036545C

授权日：

1997-11-26

发明人：

N·I·安德莫T·E·汉利P·S·莱恩

申请人：

株式会社三丰

申请人地址：

日本东京

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

叶恺东

优先权：

CN92101246.2

主分类号：

G01B11/02

IPC分类号：

G01B11/02 G01R27/26 G01D5/24

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01B

长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量

G01B11/00

以采用光学方法为特征的计量设备

G01B11/02

用于计量长度、宽度或厚度

法律状态

2012-05-16 ：

专利权的终止

专利权有效期届满号牌文件类型代码 : 1611
号牌文件序号 : 101244112088
IPC(主分类) : G01B 11/02
专利号 : ZL921012462
申请日 : 19920225
授权公告日 : 19971126
期满终止日期 : 20120225

2002-06-12 ：

其他有关事项

1997-11-26 ：

授权

1994-05-25 ：

实质审查请求的生效

1992-12-23 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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