高光谱分辨光学多道分析仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种将通用光学多道分析仪（ＯＭＡ）改作高光谱分辨测量的光学多道分析仪，其特征是在ＯＭＡ上加装一光学附件，在自编软件控制下，实现原ＯＭＡ系统整个同时谱段内，一次同时获得各条谱道的高分辨谱。其分辨率可达０．００７８ｎｍ以下，比原ＯＭＡ提高一至二个量级。该仪器费用低廉，其光学附件能快速装拆，加装后基本不改变ＯＭＡ原有性能，拆除后立即成原ＯＭＡ工作状态。适用于多种高分辨光谱的测量及研究，特别适用于对瞬态和弱光源的测量。
基本信息
专利标题 ：
高光谱分辨光学多道分析仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1077022A
申请号 ：
CN92102219.0
公开（公告）日 ：
1993-10-06
申请日 ：
1992-08-28
授权号 ：
CN1039257C
授权日 ：
1998-07-22
发明人 ：
林理忠雷杰普晓云
申请人 ：
云南大学
申请人地址 ：
650091云南省昆明市翠湖北路52号
代理机构 ：
云南省高校专利事务所
代理人 ：
张晋
优先权 ：
CN92102219.0
主分类号 ：
G01J3/45
IPC分类号 ：
G01J3/45
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
G01J3/45
干涉光谱法
法律状态
1999-10-20 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1998-07-22 ：
授权
1994-06-29 ：
实质审查请求的生效
1993-10-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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