用于色谱仪的吸收度分析系统和数据处理方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
测量部分（２）以固定的循环测量来自色谱仪的流出液试样的吸收光谱，基线计算部分（４）计算关于所测量的每个吸收光谱数据的包括在指定波数范围两端吸收率值的基线。峰区面积计算部分（６）在所确定的基线的基础上计算在指定波数范围内吸收光谱的蜂区面积。通过所计算的蜂区面积的时间变化获得了色谱图。这样，在吸收分析器上可消除其它官能团及基线波动的影响。
基本信息
专利标题 ：
用于色谱仪的吸收度分析系统和数据处理方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1070482A
申请号 ：
CN92105937.X
公开（公告）日 ：
1993-03-31
申请日 ：
1992-06-29
授权号 ：
CN1040798C
授权日 ：
1998-11-18
发明人 ：
太田宏
申请人 ：
株式会社岛津制作所
申请人地址 ：
日本京都市
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
叶恺东
优先权 ：
CN92105937.X
主分类号 ：
G01N30/86
IPC分类号 ：
G01N30/86
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N30/00
利用吸附作用、吸收作用或类似现象，或者利用离子交换，例如色谱法将材料分离成各个组分，来测试或分析材料
G01N30/02
柱色谱法
G01N30/86
信号分析
法律状态
2000-08-23 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1998-11-18 ：
授权
1994-09-07 ：
实质审查请求的生效
1993-03-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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