光学测度系统
专利申请的视为撤回
摘要
本发明为用于线分析工业流体的系统，能在紫外光可见光和近红外光谱范围内的一个单一频率上进行吸收、荧光和反射测量。一个光纤光缆将来自激发光源(20)的光脉冲耦合到流体中的探头(12)，将该探头感知的光耦合到光检测器(32)，并将来自参考光源(34)的光脉冲耦合到光检测器(32)。来自光检测器的信号被组合起来提供出一个代表该流体特性的响应信号，其组合方式使所得结果不依赖于光源强度、光检测器灵敏度在以大范围温度变化。
基本信息
专利标题 ：
光学测度系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1074292A
申请号 ：
CN92110770.6
公开（公告）日 ：
1993-07-14
申请日 ：
1992-09-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
戴尔·F·布罗斯特弗兰克·M·雷克斯奇格雷戈里·A·温斯洛
申请人 ：
德士古发展公司
申请人地址 ：
美国纽约
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
范本国
优先权 ：
CN92110770.6
主分类号 ：
G01N21/63
IPC分类号 ：
G01N21/63
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
法律状态
1996-12-18 ：
专利申请的视为撤回
1994-11-02 ：
实质审查请求的生效
1993-07-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
