一种在线测量薄塑料膜厚度和双折射率的方法和系统
专利权的终止
摘要
提供一种分析薄膜特性的系统和方法，由此通过采用非偏振光和沿着MD和CD方向的线性偏振的光来测量透射或反射光谱中的干涉条纹以确定薄膜的共面双折射率。三种光谱可同时或顺序测量。当在生产线上连续制备膜时，该共面双折射率数据可用于描述透明聚合物膜的特性，该聚合物膜主要由双轴定位聚合物构成。
基本信息
专利标题 ：
一种在线测量薄塑料膜厚度和双折射率的方法和系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1811383A
申请号 ：
CN200510107399.4
公开（公告）日 ：
2006-08-02
申请日 ：
2005-12-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
S·蒂克西尔
申请人 ：
霍尼韦尔国际公司
申请人地址 ：
美国新泽西州
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
梁永
优先权 ：
CN200510107399.4
主分类号 ：
G01N21/41
IPC分类号 ：
G01N21/41 G01J4/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
法律状态
2021-12-10 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 21/41
申请日 : 20051229
授权公告日 : 20101027
终止日期 : 20201229
申请日 : 20051229
授权公告日 : 20101027
终止日期 : 20201229
2010-10-27 ：
授权
2008-01-02 ：
实质审查的生效
2006-08-02 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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