精简管脚的嵌入式闪存全面测试方法
专利申请权、专利权的转移
摘要

本发明公开了一种精简管脚的嵌入式闪存全面测试方法,测试嵌入式闪存的所有管脚,通过一个串-并转换逻辑和一个并-串转换逻辑将所述嵌入式闪存的并行接口转换为串行接口引出,闪存的所有地址信号、数据信号及控制信号通过串行方式输入,闪存读出数据及状态响应信号通过串行方式输出。本发明在实现嵌入式闪存可测性的同时,大大减少了芯片管脚数量,节省了芯片面积,从而降低了芯片成本。

基本信息
专利标题 :
精简管脚的嵌入式闪存全面测试方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1979687A
申请号 :
CN200510111285.7
公开(公告)日 :
2007-06-13
申请日 :
2005-12-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
曾志敏桑浚之
申请人 :
上海华虹NEC电子有限公司
申请人地址 :
201206上海市浦东新区川桥路1188号
代理机构 :
上海浦一知识产权代理有限公司
代理人 :
丁纪铁
优先权 :
CN200510111285.7
主分类号 :
G11C29/00
IPC分类号 :
G11C29/00  G11C16/06  H01L21/66  G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验;备用或离线操作期间测试存储器
法律状态
2014-01-08 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101684695187
IPC(主分类) : G11C 29/00
专利号 : ZL2005101112857
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 上海华虹NEC电子有限公司
变更后权利人 : 上海华虹宏力半导体制造有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 201206 上海市浦东新区川桥路1188号
变更后权利人 : 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
登记生效日 : 20131216
2009-06-17 :
授权
2007-08-08 :
实质审查的生效
2007-06-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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