闪存检测方法及闪存检测系统
实质审查的生效
摘要

本发明涉及数据存储技术领域,公开了一种闪存检测方法及闪存检测系统。闪存检测方法包括:从待测试Die中挑选待测试块,建立坏块表;以块为单位对待测试块执行擦除命令,将发生擦除错误的块在坏块表中的标记更新为第一标记;对通过擦除测试的待测试块执行写读操作,确定当前页的第一比特翻转个数;对第一比特翻转个数超过第一预设阈值的页,多次读取当前页的原始数据,根据读取结果确定第二比特翻转个数;若第二比特翻转个数超过第二预设阈值,则将当前页所在的块在坏块表中的标记更新为第二标记。本发明提供的技术方案进一步挖掘了那些虽然某次擦除读写成功但是实际上性能不稳定、极容易出错的块,能够更准确地筛选坏块,使闪存检测更加彻底。

基本信息
专利标题 :
闪存检测方法及闪存检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114283873A
申请号 :
CN202111342765.X
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-11-12
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
黄学楼
申请人 :
深圳宏芯宇电子股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市福田区梅林街道梅都社区中康路136号深圳新一代产业园2栋2501、2401、1501
代理机构 :
深圳中创智财知识产权代理有限公司
代理人 :
田宇
优先权 :
CN202111342765.X
主分类号 :
G11C29/42
IPC分类号 :
G11C29/42  G11C29/12  G11C29/08  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验;备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试,例如,在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置,例如,内置的自检装置
G11C29/38
响应验证装置
G11C29/42
用纠错码或奇偶校验检查
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/42
申请日 : 20211112
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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