基于拼接靶的大型三维形体形貌测量拼接方法和装置
专利权的终止
摘要

本发明涉及精密测量装置。具体讲,涉及基于拼接靶的大型三维形体形貌测量拼接方法和装置。为提供不要求摄像装置有较大的景深,提高测量精度、测量速度快和效率的大型三维形体形貌测量拼接方法和装置,本发明采用的技术方案是,基于拼接靶的大型三维形体形貌测量拼接装置,设置有全局控制点、基准尺、高精度摄像装置以及测头,此外还包括放置在被测物前端的拼接靶,在拼接靶上设置有固定控制点,由前述固定控制点定义一个拼接靶坐标系OtXtYtZt,拼接靶坐标系和测头测量坐标系OmXmYmZm之间存在着通过测量拼接靶中控制点在测量坐标系OmXmYmZm中的坐标可确定的关系。本发明主要用于基于拼接靶的大型三维形体形貌测量拼接。

基本信息
专利标题 :
基于拼接靶的大型三维形体形貌测量拼接方法和装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1793780A
申请号 :
CN200510122165.7
公开(公告)日 :
2006-06-28
申请日 :
2005-12-05
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
邾继贵任同群李艳军
申请人 :
天津大学
申请人地址 :
300072天津市南开区卫津路92号
代理机构 :
天津市北洋有限责任专利代理事务所
代理人 :
刘国威
优先权 :
CN200510122165.7
主分类号 :
G01B21/20
IPC分类号 :
G01B21/20  G01B11/24  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/20
用于计量轮廓或曲率,例如测定外形
法律状态
2014-02-05 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101567528447
IPC(主分类) : G01B 21/20
专利号 : ZL2005101221657
申请日 : 20051205
授权公告日 : 20071017
终止日期 : 20121205
2007-10-17 :
授权
2006-08-23 :
实质审查的生效
2006-06-28 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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