等离子体反应装置
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要

本发明涉及一种应用于半导体晶圆制造工艺中的等离子体反应装置。本发明等离子体反应装置包括安装在腔室壁上面的绝缘窗体,其中所述绝缘窗体包括具有进气口的上盖和基盖,其中基盖内设有腔室,腔室底壁上均匀分布有若干中央孔。本发明的等离子体反应装置的优点和积极效果在于:由于绝缘窗体由上盖和基盖组成,且基盖内设有腔室,腔室底壁上均匀分布有若干中央孔。所以,由进气口进入的反应气体在基盖的腔室内受到底壁的缓冲,在整个腔室内趋于均匀,再由底壁的若干中央孔进入反应室,在反应室内的分布也趋于均匀;而且基盖腔室底壁的面积比较大,对反应室来说相当于有若干个进气口同时进气,所以,反应室内气体更加均匀。

基本信息
专利标题 :
等离子体反应装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1848372A
申请号 :
CN200510126346.7
公开(公告)日 :
2006-10-18
申请日 :
2005-12-07
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
管长乐
申请人 :
北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司
申请人地址 :
100016北京市朝阳区酒仙桥东路1号
代理机构 :
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 :
王常风
优先权 :
CN200510126346.7
主分类号 :
H01L21/00
IPC分类号 :
H01L21/00  H01L21/205  H01L21/3065  H01L21/67  C23C16/44  C23C14/56  C23F4/00  H01J37/32  H05H1/00  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
法律状态
2018-08-10 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : H01L 21/00
变更事项 : 专利权人
变更前 : 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司
变更后 : 北京北方华创微电子装备有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 100016 北京市朝阳区酒仙桥东路1号
变更后 : 100176 北京经济技术开发区文昌大道8号
2008-07-23 :
授权
2006-12-20 :
实质审查的生效
2006-10-18 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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