一种用于测量建筑结构物位移的光电测量仪
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明涉及测量技术领域，用于测量建筑结构物的位移、振动等参数。它由高速面阵数字CMOS摄像头、模拟面阵摄像头、线阵及面阵光电位置敏感元件(PSD)和电荷耦合器件(CCD)等五种光电转换器件结合电子经纬仪构成。各种光电转换器件通过切换装置结合为一体，可同时或部分接通工作。用本发明测量建筑结构物位移，采样速率高，建筑结构物的动态特性曲线可以很好地描述，测量误差小，而且抗干扰能力强，图像稳定。既可同时使用几种光电转换器件对被测物同步测量，也可根据不同的检测对象，快速切换用某种光电转换器件进行测量。
基本信息
专利标题 ：
一种用于测量建筑结构物位移的光电测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101029822A
申请号 ：
CN200610007997.9
公开（公告）日 ：
2007-09-05
申请日 ：
2006-03-03
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈勇
申请人 ：
陈勇
申请人地址 ：
100016北京市朝阳区酒仙桥三街坊7楼一单元12号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN200610007997.9
主分类号 ：
G01C11/00
IPC分类号 ：
G01C11/00 G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01C
测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学
G01C11/00
摄影测量学或视频测量学，例如，立体摄影测量学；摄影测量术
法律状态
2011-03-23 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101075701241
IPC(主分类) : G01C 11/00
专利申请号 : 2006100079979
公开日 : 20070905
号牌文件序号 : 101075701241
IPC(主分类) : G01C 11/00
专利申请号 : 2006100079979
公开日 : 20070905
2009-03-04 ：
实质审查的生效
2007-09-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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