凝视红外焦平面探测器自适应非均匀性校正方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
一种凝视红外焦平面探测器自适应非均匀性校正方法，它基于环境温度、预先存储的多个参数矩阵以及探测器获取的图像矩阵三方面的参数作为补偿算法的计算依据，对不同工作状态下的预置校正参数与探测器实际采集到的图像矩阵进行算法迭代，根据计算结果对探测器当前校正参数矩阵进行自适应修正，本发明针对现有技术存在的校正工作参数在不同工作环境下需要周期性进行校准的缺陷，提出了全新的技术方案和实施理论，现场使用中无需提供参考黑体，通过对参数的自适应调整解决了该矛盾并有效的增强了图像质量，对探测器具没有特别要求，应用条件更为广泛。
基本信息
专利标题 ：
凝视红外焦平面探测器自适应非均匀性校正方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1811360A
申请号 ：
CN200610010706.1
公开（公告）日 ：
2006-08-02
申请日 ：
2006-02-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘传明吴诚苏俊波苏兰陈吕吉
申请人 ：
昆明物理研究所
申请人地址 ：
650223云南省昆明市五华区教场东路31号
代理机构 ：
昆明正原专利代理有限责任公司
代理人 ：
陈左
优先权 ：
CN200610010706.1
主分类号 ：
G01J5/02
IPC分类号 ：
G01J5/02 G01M11/02 H01L31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/02
零部件
法律状态
2009-12-30 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-09-27 ：
实质审查的生效
2006-08-02 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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