一种可调控红外焦平面探测器应力芯片装置
授权
摘要
本专利公开了一种可调控红外焦平面探测器应力芯片装置，所述的红外焦平面探测器应力芯片的调控方法所采用的装置包括：拉杆、拉杆支撑、底座、压条和垫片。所述的装置对于应力芯片调控的方式简单、易于测量，同时该装置搭建容易、可拆卸，而且可以重复使用。将已制备好的红外焦平面探测器芯片用DW‑3低温环氧胶粘贴在压条上，在自由端对其施加向下或者向上的外力，芯片上的光敏元分成四个区域，通过对芯片上光敏元的四个区域进行测试来得到应力芯片光电性能参数，可以测得电阻率的变化。通过这种方法可以直接调控芯片的载流子迁移率，改变其电导率，从而改善红外焦平面探测器的光电响应，最终提高器件的性能。
基本信息
专利标题 ：
一种可调控红外焦平面探测器应力芯片装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921931092.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-11
授权号 ：
CN210862935U
授权日 ：
2020-06-26
发明人 ：
叶振华张伟婷陈星刘丰硕孙常鸿
申请人 ：
中国科学院上海技术物理研究所
申请人地址 ：
上海市虹口区玉田路500号
代理机构 ：
上海沪慧律师事务所
代理人 ：
郭英
优先权 ：
CN201921931092.X
主分类号 ：
G01J5/02
IPC分类号 ：
G01J5/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/02
零部件
法律状态
2020-06-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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