用于分析设备的辐射腔
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种用于分析设备的辐射腔,该辐射腔(200)包括:辐射能量源(206),配置为提供辐射电磁能;插入部件(300),配置为接收辐射电磁能,并将该辐射电磁能转换为热量;以及附加元件(116),配置为接收热量。

基本信息
专利标题 :
用于分析设备的辐射腔
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620019005.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-03-29
授权号 :
CN200962103Y
授权日 :
2007-10-17
发明人 :
萨米·E·米勒二世
申请人 :
安捷伦科技有限公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚州
代理机构 :
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人 :
王怡
优先权 :
CN200620019005.X
主分类号 :
G01N30/62
IPC分类号 :
G01N30/62  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N30/00
利用吸附作用、吸收作用或类似现象,或者利用离子交换,例如色谱法将材料分离成各个组分,来测试或分析材料
G01N30/02
柱色谱法
G01N30/62
相应的专用检测器
法律状态
2014-05-21 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101582360974
IPC(主分类) : G01N 30/62
专利号 : ZL200620019005X
申请日 : 20060329
授权公告日 : 20071017
终止日期 : 20130329
2007-10-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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