一种通用芯片的开发验证装置

专利权的终止

摘要

本实用新型涉及一种通用芯片的开发验证装置，属于芯片设计技术领域。包括：用于运行目标设计的现场可编程门阵列，用于控制和数据处理的中央处理器，用于对数据进行高速处理的数字信号处理器，用于产生调试信号、显示处理结果的调试电路，用于控制现场可编程门阵列与中央处理器之间数据传输的第一总线收发器及与数字信号处理器之间数据传输第二总线收发器，用于将中央处理器的数据和地址总线转换成数字信号处理器的主机口总线，完成双向数据传输的主机口总线转换器。本验证装置的优点是：资源丰富，能通过以太网连接到计算机，方便用户快速完成设计；预留大量扩展口和测试通道，方便用户扩展功能，观察测试；实现嵌入式操作系统，满足用户需求。

基本信息

专利标题：

一种通用芯片的开发验证装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200620119042.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2006-07-26

授权号：

CN2935267Y

授权日：

2007-08-15

发明人：

赵振丰余大勇胡博

申请人：

北京威讯紫晶科技有限公司

申请人地址：

100083北京市海淀区上地信息路2号创业园D栋208号

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所

代理人：

罗文群

优先权：

CN200620119042.8

主分类号：

G06F17/50

IPC分类号：

G06F17/50